Аналитические выражения для полной интегральной отражательной способности (ПИОС) тонких монокристаллов при дифракции рентгеновских лучей по Лауэ обобщены на случай нескольких типов дефектов, присутствующих в кристалле, в том числе впервые и крупных, размеры которых соизмеримы с глубиной экстинкции. Впервые рассмотрен случай немалых эффектов экстинкции, когда вклады в факторы экстинкции не складываются аддитивно из вкладов от различных типов дефектов, а сами интегральные факторы не сводятся к известным функциям от интегральных коэффициентов экстинкции. Введена новая экспериментально наблюдаемая величина (<$E DELTA>) отклонения от единицы ПИОС кристалла с дефектами, нормированной на ПИОС идеального кристалла, и найдены условия, при которых вклады в <$E DELTA> от различных типов дефектов складываются аддитивно.

• Молодкін Вадим Борисович (1941–) (фізико-математичні науки)
• Оліховський Степан Йосипович (фізико-математичні науки)
• Шелудченко Борис Володимирович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"