Довганюк В. В. Особенности изменений характеристик микродефектов в монокристаллах Cz-Si после облучения высокоэнергетическими электронами по данным кривых дифракционного отражения рентгеновских лучей / В. В. Довганюк, И. М. Фодчук, О. Г. Гимчинский, А. В. Олейнич-Лысюк, Е. Н. Кисловский, А. А. Белоцкая, Т. П. Владимирова, Р. Середенко, З. Свянтек // Металлофизика и новейшие технологии. - 2006. - 28, № 10. - С. 1291-1307. - Библиогр.: 30 назв. - рус.Теоретически и экспериментально исследованы облученные высокоэнергетическими электронами (E = 18 МэВ) кристаллы кремния с помощью метода кривых дифракционного отражения (КДО) рентгеновских лучей (РЛ). Для объяснения особенностей в поведении КДО в зависимости от дозы облучения и порядка отражения использованы соотношения обобщенной динамической теории брэгг-дифракции РЛ в кристалле, содержащем дефекты нескольких типов (сферические и дискообразные кластеры, дислокационные петли) и нарушенный поверхностный слой. Изучены динамика изменения концентрации и размеров доминирующих дефектов в кристаллах в результате облучения, а также влияние доминирующих типов микродефектов на когерентную и диффузную компоненты КДО. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|