Повышение чувствительности метода дуальных энергий реализуется специальным формированием спектров тормозного излучения (ТИ). 1-й пучок ТИ формируется электронами с энергией <$E roman Е sub е~<<~4> МэВ, энергия 2-го пучка не ограничена сверху. В обоих случаях используются фильтры. Разработана методика определения средней массовой толщины инспектируемых объектов. На маскирующем фоне можно выделить вложения из тяжелых материалов с массовой толщиной от <$E 10~ roman {г "/" см sup 2}>.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"