РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000174557<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Сивцов Д. П. 
Применение оптического сканирования и обработки изображений для контроля параметров тонких покрытий / Д. П. Сивцов, В. И. Редько, В. С. Хандецкий // Систем. технології. - 2005. - № 6. - С. 39-46. - Библиогр.: 2 назв. - рус.

Обговорено метод отримання кількісних оцінок товщини, рівномірності та дефектності тонких покриттів на алюмінієвій фользі. Метод базується на використанні оптичного сканера як вимірювального пристрою і призначений для контролю покриттів за лабораторних умов.


Індекс рубрикатора НБУВ: К663-7 с

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж69472 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського