Сивцов Д. П. Применение оптического сканирования и обработки изображений для контроля параметров тонких покрытий / Д. П. Сивцов, В. И. Редько, В. С. Хандецкий // Систем. технології. - 2005. - № 6. - С. 39-46. - Библиогр.: 2 назв. - рус.
Обговорено метод отримання кількісних оцінок товщини, рівномірності та дефектності тонких покриттів на алюмінієвій фользі. Метод базується на використанні оптичного сканера як вимірювального пристрою і призначений для контролю покриттів за лабораторних умов.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"