Розраховано спектральні характеристики багатошарових діелектричних інтерференційних структур, створених багатократним повторенням симетричного трикомпонентного періоду та структури типу діелектрик - тонка плівка металу - діелектрик. Частотні залежності коефіцієнтів пропускання і відбивання цих структур розраховано за допомогою матричного методу. Показано, що кількість періодів у структурі визначає спектральне розміщення смуг пропускання і відбивання, а зміна товщини окремих шарів дає змогу керувати піками цих смуг для певних довжин хвиль.

• Яремчук Ірина Ярославівна (технічні науки)
• Фітьо Володимир Михайлович (1950–) (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"