Власенко О. І. Флуктуації складу, викликані механічними пошкодженнями поверхні кристалів CdTe / О. І. Власенко, З. К. Власенко, І. В. Курило, І. О. Рудий // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2005. - Вып. 40. - С. 96-100. - Бібліогр.: 19 назв. - укp.З'ясовано, що в кристалах CdTe локальні поля пластичних і пружних деформацій, викликаних механічними пошкодженнями поверхні, призводять до локальних відхилень від стехіометричного складу (до 5 - 7 %) у пружно стиснутих областях убік збіднення Cd, а пружно розтягнутих - убік збагачення Cd. Індекс рубрикатора НБУВ: К232.606 + В379.26
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|