В рамках квазиклассического подхода с использованием модифицированной модели Фукса - Зодгаймера теоретически проанализированы коэффициенты продольной и поперечной тензочувствительности в многослойной пленке (МС) с монокристаллической структурой. Получены точные и асимптотические выражения для коэффициентов тензочувствительности (КТ) многослойной пленки. Предсказано их немонотонное изменение с увеличением толщины элемента периодичности мультислоя. Проведен подробный численный расчет зависимости КТ от отношения толщин слоев МС при различных значениях параметров, которые описывают структуру образца и взаимодействие носителей заряда с интерфейсами МС.

• Дехтярук Леонід Васильович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"