Tomaszewska A. A statistical method of processing the image from the field ion microscope = Статистичний метод обробки зображень, отриманих за допомогою польового іонного мікроскопа / A. Tomaszewska, Z. Stepien, P. Sawicki // Вісн. Львів. ун-ту. Сер. фіз. - 2007. - Вип. 40. - С. 174-179. - Библиогр.: 7 назв. - англ.Зазначено, що інтерпретація зображень, одержаних за допомогою польового іонного мікроскопа, таких, наприклад, як зображення поверхні невпорядкованих твердих розчинів, часто є досить проблематичною. Основна проблема полягає в топологічному розвпорядкуванні поверхні на атомарному рівні. Проаналізовано внесок відстаней між сусідніми пікселями зображення, що дозволяє створити модель для групи найвипукліших атомів напівсферичної поверхні мікрокристала, який розміщений на межі поля емітера. Метод застосовано для обробки зображень поверхні паладію після адсорбції водню в сильному електричному полі. Індекс рубрикатора НБУВ: В338.26 + В342.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж28852/фіз. Пошук видання у каталогах НБУВ
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|