Теоретически проанализирована проводимость <$E sigma> тонкой пленки с моно- и поликристаллической структурой, на одну из поверхностей которой нанесен диффундирующий ультратонкий слой другого металла. Получены точные и асимптотические выражения для коэффициента электропроводности и проведен детальный численный анализ зависимости величины <$E sigma> от времени диффузионного отжига для различных значений параметров, характеризующих структуру образца. Показано, что изменение свойств проводимости моно- и поликристаллического слоя металла после диффузионного отжига позволяет исследовать сам процесс объемной и зернограничной диффузии, определить эффективную глубину проникновения атомов диффузата в объем образца и вдоль межкристаллитных границ и оценить коэффициенты объемной и зернограничной диффузии.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"