За допомогою методів растрової електронної мікроскопії, рентгенівського мікроаналізу, рентгеноструктурного аналізу та мікродюрометрії досліджено взаємодію плазми нормального тліючого розряду аргону з полікристалічним порошковим вольфрамом. Показано ефективну дію низькоенергетичних іонів аргону як на поверхню матеріалу, так і на його об'єм. Глибина структурних змін досягає 100 - 120 мкм. Розміри нових включень на поверхні досягають 10 мкм, а в об'ємі - до 5 мкм.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"