Розроблено та створено автоматизовану установку для дослідження вольт-фарадних і вольт-провідних характеристик напівпровідникових бар'єрних наноструктур. Висока чутливість, роздільна здатність і точність установки забезпечується використанням двополярного високорозрядного цифроаналогового перетворювача й усереднення результатів спостереження. Показано, що створена установка дозволяє виявити тонкі особливості електрофізичних характеристик складних поверхнево-бар'єрних наноструктур.

• Ільченко Володимир Васильович (технічні науки)
• Ільченко Василь Васильович (фізико-математичні науки)
• Третяк Олена Володимирівна (педагогічні науки)
• Третяк Олексій Володимирович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"