РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000184650<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Косско И. А. 
Анализ тонкопленочных и наноструктурных материалов. Ч. 1 / И. А. Косско, В. Д. Курочкин, В. Г. Кравец, А. А. Крючин // Оптико-електрон. інформ.-енерг. технології. - 2007. - № 1. - С. 67-83. - Библиогр.: 27 назв. - рус.

Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения, а также примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + В371.236

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж23882 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського