Камалов А. Б. Деградационные явления в диодах Шоттки Au - Pt - GaAs, стимулированные активными обработками / А. Б. Камалов, С. Е. Бекбергенов // Укр. фіз. журн. - 2008. - 53, № 7. - С. 661-663. - Библиогр.: 5 назв. - рус.Рассмотрено воздействие микроволнового излучения и термоотжига на межфазные взаимодействия на границе раздела контактов Pt - GaAs, а также их влияние на барьерные свойства контакта. Показано, что в результате микроволновой обработки и длительного термоотжига диодных структур с барьером Шоттки Au - Pt - <$E n~-~n sup +> - GaAs возможна деградация параметров барьера, обусловленная размытием границы раздела Pt - GaAs. Індекс рубрикатора НБУВ: З852.2-01
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|