Шпак А. П. Диагностика дефектов монокристаллов по деформационным зависимостям полной интегральной отражательной способности. I. Лауэ-дифракция в условиях аномального прохождения / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, С. В. Дмитриев, Е. В. Первак, И. И. Рудницкая, Ю. А. Динаев, А. И. Низкова, О. С. Кононенко, А. А. Катасонов, И. Н. Заболотный, А. В. Мельник, Я. В. Василик, Т. И. Пархоменко, Л. И. Ниничук, В. Ф. Мачулин, И. В. Прокопенко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2007. - 29, № 8. - С. 1009-1019. - Библиогр.: 7 назв. - рус.Предложена и экспериментально апробирована модель динамической дифракции для описания полученных экспериментально в геометрии Лауэ в приближении "толстого" кристалла деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной отражательной способности (ПИОС) монокристаллов, содержащих хаотически распределенные дефекты (ХРД). Установлена избирательная чувствительность участков ДЗ ПИОС, характеризующихся высокой степенью упругого цилиндрического изгиба монокристалла, к величине коэффициента эффективного поглощения за счет ухода части интенсивности в диффузный фон при рассеянии на дефектах, вследствие резкого роста с увеличением изгиба и дефектности кристалла относительного вклада в ПИОС диффузной компоненты. Показано, что эта избирательность чувствительности позволяет в случае ХРД одного типа определять средний радиус и концентрацию ХРД, используя любое из доступных отражений рентгеновского излучения, а при использовании остальных доступных отражений или случаев дифракции обеспечивает диагностику нескольких типов дефектов. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.14 + В372.31
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|