Виконано теоретичний аналіз нульового розсіяння в електронографії наноматеріалів. Показано, що на відміну від рентгенографії, в електронографічних дослідженнях просте нехтування нульовим розсіянням є неправомірним. Його інтенсивність в області векторів розсіяння електронів <$E s~<<~15~roman нм sup -1> може складати десятки процентів від величини максимумів структурного фактора об'єкта. В наближенні, коли товщина зразків не перевищує 100 нм, одержано просте співвідношення, яке дозволяє враховувати нульове розсіяння в практичній електронографії.

• Іваницький Валентин Петрович (фізико-математичні науки)
• Іваницький Володимир Павлович (геологічні науки)
• Рябощук Михайло Михайлович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"