Рассмотрены существующие технологии обнаружения и исправления ошибок памяти. С учетом интенсивности возникновения отказов и указанным пользователем уровнем минимально допустимой вероятности безотказной работы модулей оперативной памяти определяется время проведения профилактического диагностирования запоминающих устройств. Приведены аналитические зависимости для расчета периода деградации модулей памяти по их вероятности безотказной работы для различных конфигураций запоминающих устройств. Предложено программное средство, учитывающее технические характеристики микросхем памяти и суммарную продолжительность работы компьютера, что обеспечивает автоматическую инициализацию выполнения упреждающего многоверсионного профилактического диагностирования.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Рябцев Володимир Григорович (технічні науки)
• Уткіна Тетяна Юріївна (1984–) (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"