Berezhnyj V. L. Identification of spurious peaks at the UHF reflectometry of plasma produced by HF method = Ідентифікація паразитних піків при НВЧ-рефлектометрії плазми, створюваної ВЧ-методом / V. L. Berezhnyj, V. L. Ocheretenko, I. B. Pinos, O. S. Pavlichenko, A. I. Skibenko, A. V. Prokopenko // Укр. фіз. журн. - 2008. - 53, № 4. - С. 334-339. - Библиогр.: 14 назв. - англ.За допомогою комп'ютерного моделювання встановлено аналітичну залежність частоти реального сигналу FX від частоти паразитного сигналу <$E F sub roman obs>, який виникає в процесі обробки експериментальних даних унаслідок явища "маскування частот". Запропоновано метод ідентифікації паразитних піків. Ефективність методу підтверджено в реальному експерименті дослідження динамічних характеристик гармонік ВЧ-генератора, який використовується для створення та нагрівання плазми в установці стелараторного типу У-3М. Одержані результати можна використати у процесі ВЧ-створення та нагрівання плазми у торсатроні У-2М. Індекс рубрикатора НБУВ: В333.2в641.8
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|