Власенко Н. А. Апробация фотодеполяризационной спектроскопии как методика исследования электронных переходов в пленках SiOx и SiOx:Er, F / Н. А. Власенко, П. Ф. Олексенко, З. Л. Денисова, Л. И. Велигура, М. А. Мухльо // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2008. - Вып. 43. - С. 98-102. - Библиогр.: 7 назв. - рус.Исследована возможность применения фотодеполяризационной спектроскопии для изучения энергии электронных переходов и дефектов в пленках SiOx и SiOx:Er, F. Показано, что эта методика позволяет обнаружить изменения, происходящие в SiOx-матрице в результате микроструктурных перестроек при изменении условий получения пленок и их легировании. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.247
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|