Фодчук И. М. Многоволновая компланарная дифракция рентгеновских лучей в структурных исследованиях кристаллов / И. М. Фодчук, М. Д. Борча, И. И. Крицун, Я. Д. Гарабажив, О. П. Кройтор, О. С. Кшевецкий, О. А. Ткач // Металлофизика и новейшие технологии. - 2008. - 30, № 9. - С. 1159-1172. - Библиогр.: 25 назв. - рус.Показана возможность прецизионного определения абсолютных значений параметра решетки кристаллов CdTe с помощью случайной компланарной многоволновой дифракции, возникающей в результате сближения и совпадения структурно-эквивалентных (600, <$E 1 Bar 33>, 733) отражений при изменении периода решетки с охлаждением образца. Рассмотрены различные температурные зависимости параметра решетки для CdTe: линейная, квадратичная, экспоненциальная. Расхождение между рассчитанными и экспериментальными зависимостями периода решетки от температуры с ее понижением объяснено наличием структурных дефектов. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|