Шпак А. П. Новые диагностические возможности деформационных зависимостей полной интегральной отражательной способности кристаллов с дефектами. Лауэ-дифракция в тонком кристалле / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, С. В. Дмитриев, Е. В. Первак, И. И. Рудницкая, Ю. А. Динаев, А. И. Низкова, Е. Г. Лень, А. А. Белоцкая, А. И. Гранкина, М. Т. Когут, О. С. Кононенко, А. А. Катасонов, И. Н. Заболотный, Я. В. Василик, Л. И. Ниничук, И. В. Прокопенко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2008. - 30, № 7. - С. 873-887. - Библиогр.: 12 назв. - рус.В рамках динамической теории рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах с дефектами произвольных размеров для геометрии дифракции по Лауэ построена модифицированная феноменологическая модель зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС) "тонких" кристаллов с дефектами от степени цилиндрического упругого изгиба. Те параметры этой модели, которые описывают деформационную зависимость ПИОС, не зависят от дефектной структуры исследуемых монокристаллов, а определяются только условиями дифракции, однако оказываются различными для брэгговской и диффузной составляющих ПИОС. В рамках предложенного подхода по деформационным зависимостям ПИОС проведена диагностика дефектной структуры монокристаллов кремния, выращенных по методу Чохральского и отожженных при 1080 <$E symbol Р>C в течение 2, 6 и 8 ч. Без каких-либо искусственных ограничений на размеры одновременно присутствующих в кристаллах дефектов нескольких типов определены их радиусы и концентрации. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|