Исследована температурная зависимость поверхностного сопротивления <$E R sub S (T)> высококачественной эпитаксиальной пленки <$E roman {YBa sub 2 Cu sub 3 O sub {7- sigma}}> толщиной 600 нм, нанесенной на монокристаллическую подложку MgO. Измерения проведены в интервале температур от Tc до 2 K с применением новой техники - с использованием сапфирового полусферического резонатора с волнами шепчущей галереи в 8-миллиметровом диапазоне волн (Ka-band). Развитая техника измерений позволяет при низких температурах достичь высокой чувствительности измерений <$E R sub S (T)> (до 10 мкОм). Получена линейная зависимость <$E R sub S (T)> в интервале температур 2 - 15 K, которая согласуется с представлениями о d-волновой симметрии параметра порядка. Найденное значение остаточного сопротивления <$E R sub roman res~=~R sub S (T~symbol О~0>) показывает, что пленка по микроволновым свойствам близка к монокристаллам и <$E R sub roman res>, по-видимому, определяется внутренними свойствами сверхпроводника. Из анализа данных следует, что <$E R sub roman res ( omega )> ~ <$E omega sup {3 "/" 2}> для монокристаллов и пленок <$E roman {YBa sub 2 Cu sub 3 O sub {7- sigma}}>, при этом природа остаточного микроволнового сопротивления остается невыясненной.

Індекс рубрикатора НБУВ: К663-18 + В372.6 + В368.3

Рубрики:

Захист металів від корозії покриттями

Тонкі шари твердих тіл

Фізика низьких температур

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"