Предложен численный метод идентификации и анализа поверхности атомного кластера. Дан обзор существующих в литературе подходов к решению этой задачи. Проанализированы алгоритмы; разработано необходимое программное обеспечение и на примере модельных кластеров проведено его тестирование. Предлагаемый метод обеспечивает одновременное однозначное определение атомов поверхности и ее мозаичное представление, которое затем можно использовать для вычисления различных интегральных характеристик кластера. Установлены некоторые общие качественные особенности оценок площади поверхности и объема малых атомных систем.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"