Ширшов Ю. М. Определение оптических констант тонких пленок полианилина с помощью поверхностного плазмонного резонанса / Ю. М. Ширшов, О. Ю. Посудиевский, А. В. Самойлов, Е. Р. Суровцева, Ю. В. Ушенин, Р. В. Христосенко, Е. Ф. Венгер, В. М. Мирский // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2008. - Вып. 43. - С. 67-73. - Библиогр.: 18 назв. - рус.Методом поверхностного плазмонного резонанса (ППР) определены толщина, показатель преломления и коэффициент экстинкции электрополимеризованных пленок полианилина (ПАНИ). В диапазоне толщин 5 - 30 нм наблюдали монотонное уменьшение показателя преломления от 1,4 до 1,1, которое стабилизируется на значении 1,1 в диапазоне 25 - 30 нм. Коэффициент экстинкции демонстрирует аналогичное поведение с ростом толщины - его значение уменьшается от 0,2 до 0,1 в диапазоне толщин 10 - 30 нм. Полученные значения оптических параметров согласуются с результатами, полученными иными оптическими методами. Предложена модель образования электрополимеризованной пленки ПАНИ, где пленка рассматривается как нанокомпозит и доля основного вещества ПАНИ уменьшается по мере роста пленки. Індекс рубрикатора НБУВ: Л719.42
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|