Шпак А. П. Повышение информативности диагностики дефектной структуры монокристаллов путем комбинирования деформационных зависимостей ПИОС в приближениях "тонкого" и "толстого" кристаллов / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, С. В. Дмитриев, Е. В. Первак, Е. Г. Лень, А. А. Белоцкая, Я. В. Василик, А. И. Гранкина, И. Н. Заболотный, А. А. Катасонов, М. Т. Когут, О. С. Кононенко, В. В. Молодкин, А. И. Низкова, Л. И. Ниничук, И. В. Прокопенко, И. И. Рудницкая // Металлофизика и новейшие технологии. - 2008. - 30, № 9. - С. 1189-1202. - Библиогр.: 8 назв. - рус.Предложен и экспериментально апробирован метод определения параметров дефектов монокристаллов, основанный на совместном анализе деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной отражательной способности (ПИОС), получаемых в приближениях "тонкого" и "толстого" кристаллов в геометрии Лауэ. Использованы и усовершенствованы полуфеноменологические модели ДЗ ПИОС, разработанные в рамках динамической теории рассеяния рентгеновских лучей. Установлена физическая природа высокой информативности предложенного метода. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.31
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|