![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000211941<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Грибский М. П. Прогнозирование стойкости микросхем при их работе в напряженных токовых режимах / М. П. Грибский, В. В. Старостенко, Е. В. Григорьев, Е. П. Таран, С. А. Зуев, Д. А. Унжаков // Вісн. Сум. держ. ун-ту. Сер. Фізика, математика, механіка. - 2008. - № 2. - С. 185-190. - Библиогр.: 9 назв. - рус.Получены данные по стойкости микросхем при воздействии мощных импульсных электромагнитных полей; численные значения пороговых полей катастрофических отказов к рассматриваемому виду воздействия вплоть до микросхем с 30-ти нанометровой технологией и размерами кристаллов до <$E 20~times~20> мм. Індекс рубрикатора НБУВ: З844.1
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж69231 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|