Міряння густини критичного струму (<$E J sub c>) епітаксійних YBCO-плівок демонструють її суттєву товщинну залежність, що спадає з 7 - 8 МА/см<^>2 у дуже тонких плівках (50 - 70 нм) до менш ніж 1 МА/см<^>2 у товстіших плівках. Дослідження за допомогою методу дифракції зворотно розсіяних електронів та просвітлювальної електронної мікроскопії з високою роздільчою здатністю свідчать, що наноструктура епітаксійних ВТНП-плівок YBCO еволюціонує впродовж росту за високої температури внаслідок високої мобільності дислокацій. Аналіз існуючих моделей пінінгу вихорів Абрикосова приводить до висновку, що будь-які центри пінінгу, окрім дислокацій, не можуть забезпечити одержані величини <$E J sub c>. Протяжні лінійні дефекти забезпечують максимальну елементарну силу пінінгу, якщо вихорі є паралельними лініям дислокацій, в той час як випадково розподілені точкові дефекти можуть забезпечити пінінг на два порядки менший за величиною. Таким чином, товщинна залежність <$E J sub c> визначається в основному еволюцією дислокаційної структури. Введення наночастинок у ВТНП-плівки дає вклад у зростання <$E J sub c> тільки у випадку когерентного входження їх у матрицю та внаслідок формування додаткових дислокацій в процесі росту, що забезпечує збереження високої концентрації дислокацій. Наночастинки зменшують дислокаційну мобільність, фіксують дислокаційну структуру та запобігають полігонізації.

• Пан Володимир Михайлович (фізико-математичні науки)
• Черпак Юрій Володимирович (фізико-математичні науки)
• Черпак Юрій Васильович (педагогічні науки)
• Касаткін Олександр Леонідович (фізико-математичні науки)
• Москалюк Володимир Олександрович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"