![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000221158<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Прядкін С. Л. Використання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл-провідників : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.18 / С. Л. Прядкін; НАН України. Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова. - К., 1998. - 18 c. - укp. - рус.Створені оригінальні конструкції кріогенного та надвисоковакуумного СТМ (скануючого тунельного мікроскопу). Визначені їх параметри. Введено в практику використання пристрою сколу кристалів в кріогенному СТМ. Розроблена універсальна цифрова електроніка для СТМ. Вивчено топографію реальних поверхонь (110) і (100) вольфраму та з'ясовано причину анізотропії віддзеркалення електронів при нормальному падінні від цих поверхонь. На сколах in situ кристалів високотемпературного надпровідника YBa2Cu3O7-x в кріогенному СТМ в умовах відсутності механічного контакту між вістрям та поверхнею був отриманий діапазон можливих величин надпровідної щілини. Розроблені методи переносу атомів кремнію по поверхні Si (111) з допомогою вольфрамового вістря в СТМ. Розмір особливостей, що утворюються, може змінюваться в діапазоні 2 - 30 нм. Методи можуть бути використані для утворення кремнієвих мікроелектронних структур. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.15,022 + В372.5,022
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА302214 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Автореферати дисертацій Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|