Когут М. Т. Динамічна інтегральна рентгенівська дифрактометрія порушених поверхневих шарів монокристалів з мікродефектами : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / М. Т. Когут; НАН України. Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова. - К., 2005. - 23 c. - укp.Експериментально перевірено та підтверджено унікальну чутливість повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) до дефектів у разі дифракції за Бреггом. З'ясовано динамічу природу збільшення ПІВЗ виключно за рахунок переважного зростання з посиленням порушень дифузної складової ПІВЗ за умови зменшення її когерентної складової як фактора, що обумовлює унікальну чутливість ПІВЗ до дефектів і чинника високої інформативності діагностики. У випадку дифракції за Лауе експериментально встановлено динамічну природу розсіяння, що проявляється у зміні знаку впливу дефектів на ПІВЗ під час переходу від "тонкого" до "товстого" наближення кристалів, що і обумовило її унікальну чутливість до дефектів. Створено й експериментально апробовано діагностичні моделі динамічної дифракції в ідеальних кристалах з порушеним поверхневим шаром (ППШ) та у кристалах, що містять випадково розподілені дефекти (ВРД) і ППШ. Розроблено нові принципи розподілу внесків ППШ та ВРД у ПІВЗ, що базуються на керуванні співвідношеннями між довжинами і глибинами екстинкції та абсорбції. Відзначено унікальність нового методу діагностики, що забезпечує кількісне визначення нанорозмірних характеристик порушеного шару на поверхні монокристала та випадково розподілених в об'ємі дефектів. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,022
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА335581 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Автореферати дисертацій Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|