Експериментально підтверджено передбачені теоретично унікально чутливі до дефектів нові явища та ефекти багатократності дифузного розсіяння рентгенівського випромінюванння: зміну зі зростанням спотворень на відміну від кінематичного випадку повної (суми бреггівської та дифузної) інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) та зміну вибірності чутливості ПІВЗ до дефектів різних типів за неоднакових умов дифракції. На підставі вказаних явищ та ефектів створено унікальні методи нового покоління, що забезпечують принципово нові функціональні можливості діагностики, зокрема кількісну характеризацію декількох типів дефектів у кристалах (сертифікацію XXI ст.), що запропоновано вперше. Створено теоретичну модель та розроблено методи інтегральної дифрактометрії кількісних характеристик одночасно присутніх порушених поверхневих шарів та випадково розподілених нанорозмірних дефектів (ВРНД) у кристалах. Вперше експериментально доведено наявність залежності інтегральної інтенсивності дифузного розсіяння від ступеня однорідної макроскопічної пружної деформації, що забезпечило можливість адекватного кількісного визначення характеристик ВРНД шляхом моделювання та фітування експериментальних деформаційних залежностей ПІВЗ.

• Низкова Ганна Іванівна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"