РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000225462<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Кисловський Є. М. 
Динамічні ефекти дифузного розсіяння у високороздільній рентгенівській дифрактометрії монокристалів з флуктуаційними полями статичних зміщень від мікродефектів і пружним вигином : Автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Є. М. Кисловський; Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України. - К., 2000. - 33 c. - укp.

Дисертацію присвячено систематичному екпериментальному дослідженню та використанню для створення комплексу оригінальних методів діагностики нового покоління динамічних рентгенодифракційних ефектів дифузного розсіяння (ДР) у монокристалах, що містять флуктуаційні поля статичних зміщень від мікродефектів і пружний вигин. Створено й обгрунтовано фізичні рентгенодифракційні моделі, які виявилися адекватними в найбільш складних випадках спотворень, що не знаходили коректного опису в рамках існуючих до моменту початку роботи уявлень та теорій динамічної дифракції. Визначено складні випадки: крупних мікродефектів, розміри яких співмірні з екстинкційною довжиною, адитивного впливу одночасної присутності у монокристалі мікродефектів декількох типів, виявлених у роботі експериментально аномальних ефектів неадитивного впливу на характер поведінки деформаційних залежностей повної (когерентної та дифузної) інтегральних інтенсивностей для Лауе-дифракції у тонкому кристалі флуктуаційних полів статичних зміщень від мікродефектів і пружним вигином. Створено комплекс рентгенодифрактометричних методів нового покоління, що використовують динамічні ефекти ДР для кількісного неруйнівного контролю характеристик мікродефектів у складних випадках спотворень. Запропоновано нові методи діагностики: диференціально-інтегральної та нові варіанти методів інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії, повних кривих качання, оригінальний рентгенодифрактометричний метод контролю густини дислокацій, контролю локальної пружної деформації, структурної однорідності монокристалічних пластин і глибини порушених поверхневих шарів.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,022 + В372.31,022

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА311651 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського