Запропоновано модельні представлення зосередженої сили, які дозволяють відтворити експериментальні дифракційні зображення слабких і сильних деформаційних полів у випадку дії зосередженого навантаження на клиновидний та плоскопаралельний кристали. Виявлено особливості формування товщинних осциляцій інтенсивності та дифракційних зображень пружних полів деформацій у сильно спотворених областях клиновидного та плоскопаралельного кристалів. Розроблено основи теорії формування муарових зображень дефектів у трикристалічній інтерферометрії. Проведено моделювання муарових зображень дислокацій, пружних деформаційних полів, що виникають внаслідок дії зосередженого навантаження. Досліджено комбінований вплив дислокацій та мікродефектів на інтегральні параметри структурної досконалості кристалів. Розраховано товщинні розподіли та амплітудні залежності інтенсивностей, секційні та проекційні топограми акустично збуджених кристалів, що одночасно містять дислокації та мікродефекти.

• Бобровник Світлана Василівна (1957–) (юридичні науки)
• Бобровник Сергій Вікторович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"