Бударіна Н. М. Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.13 / Н. М. Бударіна; НАН України. Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова. - К., 2003. - 20 c. - Бібліогр.: с. 16-17. - укp.Досліджено вплив планарних дефектів великої густини на дифракційну картину полікристалів з ГЦК-граткою. За результатами моделювання порошкових дифрактограм встановлено кореляцію між дифракційними ефектами та параметрами дефектної структури ГЦК кристалів, а саме, типом і густиною планарних дефектів. Доведено, що раніш розвинуті методи визначення кількісних характеристик дефектів потребують суттєвого коригування. Розроблено метод повнопрофільного аналізу порошкових дифрактограм у випадку одномірного розвпорядкування ГЦК кристалів планарними дефектами. Визначено параметри мікроструктури (середній розмір кристалів, густина двійникових меж, густина дислокацій) нанокристалічних порошків міді, одержаних механічним подрібненням у кульовому млині планетарного типу. Встановлено кореляцію між параметрами мікроструктури та характеристиками механо-активаційного процесу. Індекс рубрикатора НБУВ: К202
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА324576 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Автореферати дисертацій Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|