Запропоновано нову модель збоїв у кристалах інтегральних схем, яка враховує взаємозв'язок між індуктивною та резистивною складовими завади. На підставі даної моделі збоїв побудовано удосконалені моделі функціональної надійності типових вузлів цифрових пристроїв (ЦП), які дозволяють оцінити вплив внутрішніх завад на процес правильного функціонування ЦП. Підвищення достовірності роботи ЦП за умов наявності завад та відмов досягають за допомогою введення до схеми ЦП спеціальних схем контролю. З метою порівняння альтернативних реалізацій подібних схем контролю на етапі проектування запропоновано методики оцінки імовірностей появи помилок на виходах ЦП та достовірностей функціонування ЦП зі схемами контролю, наведено приклади практичної реалізації цих методик у вигляді програм ErrSim, TestDD FVC.

• Бенч Андрій Ярославович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"