Гайдар Г. П. Особливості анізотропії розсіяння електронів у кристалах Si і Ge n-типу, що виникають під впливом направленої пружної деформації, термовідпалів і ядерної радіації : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Г. П. Гайдар; НАН України. Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2001. - 20 c. - укp.Досліджено актуальні задачі, пов'язані з впливом радіаційного випромінення, термовідпалів і спрямованої пружної деформації на електрофізичні властивості Si та Ge n-типу. Експериментально доведено, що такі фундаментальні характеристики кристалів n-Si, як константи деформаційних потенціалів у трансмутаційно-легованих кристалах, залишаються практично незмінними або зазнають лише незначних (~ 10 %) змін. Доведено, що зниження параметра анізотропії рухливості K = muperpendicular / mu|| у n-Ge з підвищенням внеску домішкового розсіяння носіїв струму повністю обумовлене зниженням компоненти поперечної рухливості muperpendicular. Продемонстровано безпосередній зв'язок особливостей питомого опору, п'єзоопору, коефіцієнта Холла тощо, які спостерігаються у гамма-опромінених n-Si та n-Ge (різного рівня легування та компенсації), з анізотропією розсіяння. Встановлено суттєвий вплив анізотропії розсіяння на формування кінетичних коефіцієнтів, що вимірюються за умов змішаного (фононного + домішкового) чи переважно домішкового розсіяння в слабко збуреному тепловому полі, а також за наявності довільних за величиною (неквантуючих) магнітних полів чи спрямованих пружних деформацій. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.271.022
Шифр НБУВ: РА313327 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Автореферати дисертацій Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|