РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000246903<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Петренко Т. Т. 
Парамагнітні дефекти в оксидах кремнію з нанокристалітами та карбіді кремнію p-типу : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Т. Т. Петренко; НАН України. Ін-т фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова. - К., 2004. - 17 c. - укp.

Досліджено парамагнітні дефекти в імплантованих шарах оксидів кремнію, плівках <$Eroman SiO sub x> та опроміненому електронами 6H-SiC p-типу. Ідентифіковано ряд парамагнітних дефектів у шарах <$Eroman SiO sub 2>, імплантованих іонами <$Eroman Si sup +> та <$Eroman Ge sup +>, та у плівках <$Eroman SiO sub x>. Визначено характер структурних перетворень, які відбуваються в цих зразках у процесі відпалу в температурному діапазоні <$E100~-~1 1000~ symbol Р roman C>. Під час вивчення імплантованих структур <$Eroman Si/SiO sub 2> вперше спостерігались парамагнітні дефекти, пов'язані з надлишком атомів Si в матриці <$Eroman SiO sub 2>, та центри, пов'язані з атомами Ge, розташованими у вузлах гратки <$Eroman SiO sub 2>. У випадку <$Eroman SiO sub x> плівок вперше зафіксовано парамагнітні дефекти на інтерфейсі <$Eroman SiO sub 2> з кремнієвими нанокристалітами. У температурному діапазоні 4 - 300 К визначено параметри спін-гамільтоніану трьох основних центрів Ку1, Ку2 та Ку3, які спостерігаються у кристалах 6H-SiC p-типу, опромінених електронами. Дослідження за допомогою методу електронного парамагнітного резонансу під час вивчення радіаційних центрів у карбіді кремнію проводилось одночасно з теоретичними розрахунками електронної структури та надтонких параметрів дефектів, які грунтуються на теорії функціоналу густини. Порівняння розрахованих з перших принципів надтонких параметрів з експериментально визначеними величинами дозволяє ідентифікувати ці дефекти як позитивно заряджену вакансію вуглецю в нееквівалентних положеннях гратки 6H-SiC. На базі розрахунків відомі дефекти Т5 та Е13 ідентифіковано відповідно як


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.222,022 + В371.273,022

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА328823 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Автореферати дисертацій 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського