Іванов Д. Є. Розробка методів моделювання і тестування пошкоджених цифрових пристроїв у багатозначних алфавітах : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.13 / Д. Є. Іванов; Донец. держ. техн. ун-т. - Донецьк, 2000. - 17 c. - укp.Запропоновано ефективні методи моделювання константних та функціональних пошкоджень, у яких з метою підвищення адекватності використано універсальну 16-значну логіку, а для підвищення швидкості - паралельне за пошкодженням моделювання. Щодо стратегії паралельного моделювання, суміщеного з одиночним розповсюдженням пошкоджень, запропоновано нові методи підвищення швидкості: зменшення числа подій за рахунок статичного та динамічного сортування, новий структурний функціональний спосіб внесення дії пошкодження. Розроблено алгоритм побудови тестових послідовностей, який базується на генетичному алгоритмі, що дозволяє будувати тести прийнятної якості для великих схем. Алгоритми реалізовано програмно і впроваджено в автоматизовану систему моделювання та діагностики АСМІД-Е, яку використано під час проектування реальних цифрових пристроїв. Індекс рубрикатора НБУВ: З972-07
Шифр НБУВ: РА309659 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|