Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000270645<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Кшевецький О. С. Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / О. С. Кшевецький; НАН України. Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 20 c. - укp.Розвинуто методи дво- та багатохвильової дифракції X-променів з метою дослідження структурних змін у кристалах за дії різних зовнішніх сил. Шляхом функціонального вибору профілю одновимірних деформацій та оптимізації його параметрів проведено моделювання та зіставлення експериментальних і теоретичних дифракційних картин, одержаних за методом Коселя та кривих дифракційного стискування та температурного охолодження синтезованих кристалів алмазу на формування профілів ліній Коселя. З метою підвищення інформативності, чуливості, експресності та достовірності методу Коселя розроблено методи та відповідні пристрої для цифрової обробки топографічних зображень дво- та багатохвильових областей розсіяння X-променів. З використанням методів числового розв'язку системи рівнянь Такагі досліджено механізми й закономірності формування профілів розподілу інтенсивності у дво- та багатохвильових областях дифракції широкорозбіжного пучка X-променів на синтезованих кристалах алмазу, одержаних за різних технологічних умов та за дії зовнішніх сил. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,022
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА333090 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|