Висвітлено проблеми теоретичних основ вимірювань, контролю та технічної діагностики, інформаційно-вимірювальних технологій і метрології. Розглянуто нові методи вимірювання параметрів багатоелектронних напівпровідникових структур, теоретичні основи вимірювального контролю методом інтегрального функціоналу. З'ясовано вплив процесів флокуляції на якість ультразвукового контролю характеристик залізорудної пульпи. Запропоновано метод організації системи розподілених вимірювань на основі оптичних волокон з від'ємним показником заломлення. Проаналізовано проблеми телеметричних вимірювань наносупутникових угруповань космічних апаратів. Показано перспективи розвитку ультразвукової термометрії. Надано рекомендації з проектування мікроелектронних перетворювачів магнітного поля. Висвітлено основи теорії магнітостійкого методу контролю рівня рідинних середовищ. Наведено засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покриттів пласких металевих поверхонь. Розглянуто методи підвищення точності вимірювальних перетворювачів у статичних і динамічних режимах тестового контролю. Розкрито теоретичні основи похибок вимірювального контролю за реологічних перетворень явищ перенесення. Увагу приділено побудові структури інтелектуальної системи управління якістю продукції. Подано математичну модель оцінювання технічного стану розподільчих газових мереж. Запропоновано комп'ютеризовану систему ідентифікації та контролю стану людини. Визначено методику побудови автоматизованого технологічного процесу ремонту медичного обладнання.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"