Предложен новый подход к решению задачи построения тестов цифровых устройств с минимальным рассеиванием тепла, который основан на понятии избыточности тестовых последовательностей. Данный подход состоит из трех последовательных этапов: генерация множества избыточных тестовых последовательностей, оценка их свойств и выбор оптимального подмножества. Особенностью подхода является то, что последний этап основан на алгоритме симуляции отжига. Приведены результаты машинных экспериментов для схем каталога ISCAS-89, подтверждающие эффективность предложенного подхода.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"