Досліджено вплив зміни алгоритмів у задачах оптимізації розміщення елементів електронних схем для виходу з локальних екстремумів. Продемонстровано застосування стратегії ітераційної зміни алгоритму точкового сканування зі зсувом елементів та алгоритму з їх парним обміном. Експерименти виконано на тест-задачі Стейнберга. Показано, що така зміна дозволяє покращити результати оптимізації розміщення.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"