Надано результати визначення структурних параметрів кристалів CdTe за допомогою штучних нейронних мереж на основі Х-променевих кривих дифракційного відбивання. Використано тришарову мережу зі зворотним розповсюдженням помилки та з динамічним додаванням нейронів. За допомогою створеного програмного забезпечення проведено моделювання роботи нейромережі. Проаналізовано вплив параметрів нейронної мережі на час навчання і на помилку мережі для тестових зразків. Показано, що динамічне додавання нейронів у поєднанні з коректним вибором топології й параметрів мережі дозволяє зменшити час навчання.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Баловсяк Сергій Васильович (фізико-математичні науки)
• Фодчук Ігор Михайлович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"