Проанализирована зависимость амплитуды эффективной отражающей поверхности (ЭОП) цели для произвольного расположения блестящих точек и зависимости ошибок оценки азимутальных интервалов наблюдения соседними лепестками парциальной диаграммы направленности (ПДН) от разности частот облучения. Кроме этого, в работе проведен анализ зависимости интервалов наблюдения одним лепестком ПДН на выходе приемного тракта от относительного порога ограничения и получены приближенные аналитические выражения анализируемых зависимостей на основе итерационного метода. По мнению авторов, эти выражения позволят получить аналогичные выражения для точности измерения угла места цели в трехкоординатных обзорных РЛС методом ПДН, зависящей от различий амплитуды ЭОП цели, обусловленной отличиями частот облучения цели соседними лепестками.

• Макаров Сергій Анатолійович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"