В рамках классической теории рассеяния исследуется осевая теневая картина в кристалле, содержащем включения, имеющие форму эллипсоида вращения, в случае, когда характерный размер корреляции искажений в кристалле оказывается значительно большим по сравнению с расстоянием, на котором формируется теневая картина. Величина минимального выхода частиц, рассеянных искаженной цепочкой атомов при не слишком больших деформациях, оказывается пропорциональной концентрации включений и является функцией угла, определяющего ориентацию направления наблюдения теневой картины относительно характерного направления эллипсоида, и параметра, характеризующего анизотропию дефекта. Это обстоятельство позволяет использовать теневой эффект для диагностики включений в кристаллах.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"