Запропоновано модифікацію дискретного аналога методу інтегрального рівняння Гельфанда - Левитана для відновлення профілю діелектричної проникності шаруватої структури, яка враховує розходження випромінювання. Перевагу модифікованого методу перед базовим варіантом у точності відновлення профілю продемонстровано результатами числового експерименту.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"