Представлено аналіз експериментальних методів визначення мілких і глибоких центрів у напівпровідникових кристалах. Розглянуто кінетичні, релаксаційні та оптичні методи визначення енергії іонізації дефектів. Підкреслено особливості використання відзначених експериментальних методів та одержаних на їх основі результатів.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Возняк Олег Михайлович (технічні науки)
• Возняк Олександр Михайлович (медичні науки)
• Возняк Олександр Миколайович (технічні науки)
• Паращук Тарас Олексійович (фізико-математичні науки)
• Горічок Ігор Володимирович (хімічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"