Вахула А. А. Моделирование параметров тонкопленочных структур для колориметрического анализа жидких сред / А. А. Вахула, А. Л. Кукла // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2009. - Вып. 44. - С. 60-67. - Библиогр.: 12 назв. - рус.Смоделированы оптические параметры многослойной тонкопленочной системы отражающая подложка - чувствительная пленка - слой жидкости - внешняя среда, используемой в качестве чувствительной структуры для интерференционного сенсора, в целях получения оптимальной чувствительности колориметрического анализа исследуемой среды. В качестве исследуемого вещества использован слой жидкости. Моделирование основано на расчете френелевских коэффициентов отражения света от многослойной структуры на трех фиксированных длинах волн, соответствующих R-, G-, B-компонентам, при этом учитываются вариации материала подложки и ее оптических свойств, толщины и показателя преломления тонкой пленки и жидкого слоя. В результате модельных расчетов установлены оптимальные параметры отражающей подложки, чувствительной пленки и слоя жидкости для получения высокой чувствительности колориметрического анализа жидкой среды. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|