Смоделированы оптические параметры многослойной тонкопленочной системы отражающая подложка - чувствительная пленка - слой жидкости - внешняя среда, используемой в качестве чувствительной структуры для интерференционного сенсора, в целях получения оптимальной чувствительности колориметрического анализа исследуемой среды. В качестве исследуемого вещества использован слой жидкости. Моделирование основано на расчете френелевских коэффициентов отражения света от многослойной структуры на трех фиксированных длинах волн, соответствующих R-, G-, B-компонентам, при этом учитываются вариации материала подложки и ее оптических свойств, толщины и показателя преломления тонкой пленки и жидкого слоя. В результате модельных расчетов установлены оптимальные параметры отражающей подложки, чувствительной пленки и слоя жидкости для получения высокой чувствительности колориметрического анализа жидкой среды.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6

Рубрики:

Тонкі шари твердих тіл

Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"