Представлен новый подход для моделирования кривых рентгеновской рефлектометрии с применением метода частиц. В качестве частиц использованы пучки рентгеновских лучей единичной интенсивности. Учет многократных отражений и преломлений лучей в приближении френелевской оптики, а также отражений от границы "поверхностный слой - объем", обеспечили количественное соответствие экспериментальной и рассчитанной кривых. Исследованы механизмы формирования распределения интенсивности кривых полного внешнего отражения (ПВО) в различных угловых диапазонах. Предлагаемый алгоритм позволяет рассчитывать рентгеновские кривые ПВО от моделированного (фрактального) профиля поверхности и определять параметры усредненного фрактального профиля путем подгонки моделированной кривой к экспериментальной. Соответствующее программное обеспечение разработано в среде Delphi.

• Баловсяк Сергій Васильович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"