Гоков С. П. Определение поглощенной дозы при электронном облучении неоднородных объектов / С. П. Гоков, О. А. Демешко, В. И. Касилов, С. С. Кочетов, Л. А. Махненко, И. В. Мельницкий, О. А. Шопен // Вісн. Харк. нац. ун-ту. Сер. фіз. "Ядра, частинки, поля". - 2009. - N 868, вип. 3. - С. 30-34. - Библиогр.: 3 назв. - рус.Рассмотрена задача определения поверхностной и глубинной поглощенной дозы при облучении быстрыми электронами неоднородных по плотности объектов. При этом учтены технические особенности радиационного стенда ускорителя, в том числе не ортогональность пучка и гауссово распределение плотности потока электронов по сечению. Моделирование процесса прохождения электронов через вещество исследуемых объектов и формирование глубинной дозы выполнено с помощью пакета программ PENELOPE, основанных на методе Монте-Карло. Сравнены расчетные и экспериментальные данные и показано, что расхождение между поглощенными дозами в наиболее характерных точках исследуемых образцов не превышает ~ 20 % при моделировании и ~ 30 % при расчете. Індекс рубрикатора НБУВ: В381.08
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж29137 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|