Кутаев Ю. Ф. Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю. Ф. Кутаев, Л. И. Тимченко, В. А. Губернаторов, Н. И. Кокряцкая // Искусств. интеллект. - 2010. - № 3. - С. 81-87. - Библиогр.: 5 назв. - рус.
Рассмотрена проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предложено использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"