Получены карты фотонной плотности состояний двумерного фотонного кристалла методом разложения по плоским волнам по аналогии с картами фотонных запрещенных зон. Карты фотонной плотности состояний позволяют более точно определять параметры фотонных кристаллов при проектировании устройства на их основе. Кроме того, произведено сравнение карт с аналогичными характеристиками, полученными при помощи метода конечных разностей. Результаты сравнения показывают, что данные, полученные двумя способами, аналогичны, однако получение карт фотонной плотности состояний требует в несколько раз меньше времени для расчета при одинаковой точности. Кроме того, проведено сравнение эффективности методов анализа карт фотонной запрещенной зоны и карт фотонной плотности состояний.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"